大型仪器
扫描电子显微镜（日本电子JSM-7900F）
主要功能：本仪器可用于材料科学(金属材料、非金属材料、纳米材料)、冶金、生物学、医学、半导体材料与器件、地质勘探等领域各种样品的三维形貌的观察和分析，在观察形貌的同时,可进行微区的成分分析。
技术参数：
分辨率 |
≤ 1.0 nm (0.5 kV，WD≧2mm) ≤ 0.7 nm (1 kV，WD≧2mm) ≤ 0.6 nm (15 kV，WD≧2mm) |
倍率 |
25 ~ 300000 |
加速电压 |
0.01 ~ 30 kV |
探针电流 |
1pA ~ 500 nA |
检测器 |
高位检测器(UED)、低位检测器(LED)，拉伸式背散射电子探测器 |
电子枪 |
浸没式肖特基场Plus场发射电子枪 |
最佳光阑角控制镜 |
内置 |
物镜 |
超级混合式物镜/SHL |
自动功能 |
自动聚焦、自动消像散、自动调节亮度、自动调节衬度 |
大景深模式（LDF） |
内置 |
样品台 |
全对中测角样品台 |
样品移动 |
X≧70mm, Y≧50mm, Z≧41mm,倾斜角：-5~70o,旋转360o |
马达驱动 |
5轴马达驱动 |
样品交换室 |
最大直径：100 mm，最大高度：40 mm |
抽真空系统 |
SIP、TMP、RP |
扫描电子显微镜（日本电子JSM-7900F）
X射线衍射仪（德国布鲁克D8 ADVANCE）
主要功能:可精确地对金属和非金属多晶粉末样品进行物相检索分析、物相定量分析、材料的线、面扫描定性分析、基本参数法线形分析、晶胞参数计算和固溶体分析,电池变温原位充放电测试，薄膜掠入射分析，薄膜反射率分析,织构,应力,微区测试。
技术参数：功率：3.6 kw；额定电压：60 kv；；额定电流：60 mA
最小步长：0.0001º；2θ转动范围：-10º-168º；高温腔体：可达1100℃
X射线衍射仪（德国布鲁克公司D8 ADVANCE）
比表面吸附仪(美国康塔NOVA touch LX2)
主要功能：本仪器主要用于无机材料、复合材料、有机材料、医药、生物等物质的比表面和孔径的测量,并附有完善的软件功能,对所测试的数据可进行各种分析。
技术参数：最大功率：140 W，环境温度：15 ~ 40℃，最大相对湿度：80%，孔隙度：3.5 ~ 2000A，比表面积 > 0.01m2/g，分辨率(P/Po)：2*10-5（N2）
比表面吸附仪(美国康塔NOVA touch LX2)
X射线荧光光谱仪（日本岛津EDX-7000）
主要功能：本仪器可分析的元素范围为钠(11Na)至铀(92U)。适用于包括无机材料、金属材料、电子器件等材料中元素的定性、定量分析以及各种机械零部件结构分析及镀层厚度、化学合成外膜附着量的检测等领域。
性能指标：元素范围：钠(11Na)-铀(92U)，X射线管靶材：Rh，测试氛围：真空、大气，真空度:小于50Pa，真空排气时间：小于2分钟， 样品照射面积：Φ1、Φ3、Φ5、Φ10 mm，最大样品质量200g/样品
X射线荧光光谱仪 （日本岛津EDX-7000）
激光粒度分析仪（英国马尔文Mastersizer 3000）
仪器功能:本仪器主要用来测量各种粉体材料的尺寸分布（粒度分布），测量范围：为0.1 μm ~ 200 μm，且附有完善的软件功能,对所测试的数据可进行各种分析。
技术指标:测量范围：0.1 μm ~200 μm,中位径重复精度：±3%,激光输出功率：2~3.5 mW,激光器的类型：He-Ne激光器,激光波长；0.6328 μm,工作湿度：＜85%,数据采样时间：1~2秒,数据分析时间：≤2分钟,粒径分段数：39,工作电源：220V/50Hz,功耗：600W,工作温度：5~35℃
粒度分析测试仪(英国马尔文Mastersizer 3000)
综合热分析仪（德国耐驰STA409 PC）
主要功能：本仪器能够在室温到1350 ℃的温度范围测试；可在氧化或惰性气氛下测量；适应于无机材料、金属材料、复合材料、有机材料、医药、食品、生物等TG、TG-DSC及TG-DTA的热分析。
性能指标：温度范围: R.T.- 1550 °C,天平分辨率: 2 g,DSC灵敏度: S型热电偶3mW,样品种类: 固态、液态或纤维, 加热速率: 0.1- 50 k/min,样品重量: max.18g,
测试气氛: 静态或动态；氧化、还原、惰性或真空(10-2mbar), 热重漂移: < 8 g/h
综合热分析仪（德国耐驰STA 409PC）